Dresden / 26. Mai 2025 - 28. Mai 2025
17. VDE ITG MN 5.6 Fachtagung »f(ast)WLR, Wafer Level Reliability, Zuverlässigkeits-Simulation & Qualifikation«

Die VDE ITG Fachgruppe MN 5.6 lädt herzlich Experten sowie Newcomer auf dem Gebiet der Halbleiterzuverlässigkeit zur 17. VDE ITG MN 5.6 Fachtagung »f(ast)WLR, Wafer Level Reliability, Zuverlässigkeits-Simulation & Qualifikation« an das Fraunhofer IKTS in Dresden ein – dieses Jahr mit dem Fokusthema: »Chiplets & their usage in fWLR Methodology«.
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